Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 - Hawkes, Peter W.; H?tch, Martin - Prospero Internetes Könyváruház

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2
 
A termék adatai:

ISBN13:9780443317200
ISBN10:0443317208
Kötéstípus:Keménykötés
Terjedelem:232 oldal
Méret:228x152 mm
Nyelv:angol
700
Témakör:

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2

 
Kiadó: Academic Press
Megjelenés dátuma:
 
Normál ár:

Kiadói listaár:
EUR 175.00
Becsült forint ár:
76 072 Ft (72 450 Ft + 5% áfa)
Miért becsült?
 
Az Ön ára:

68 465 (65 205 Ft + 5% áfa )
Kedvezmény(ek): 10% (kb. 7 607 Ft)
A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
Kattintson ide a feliratkozáshoz
 
Beszerezhetőség:

Még nem jelent meg, de rendelhető. A megjelenéstől számított néhány héten belül megérkezik.
 
  példányt

 
Hosszú leírás:
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part Two, Volume 233 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The release in the series features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, Mass Analyzers based on Fourier Transform, Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers, Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers, and Radiofrequency Mass Analyzers.
Tartalomjegyzék:
Prefece
1. Electrostatic Energy Analyzers
Mikhail Yavor
2. Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields
Mikhail Yavor
3. Mass Analyzers based on Fourier Transform
Mikhail Yavor
4. Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers
Mikhail Yavor
5. Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers
Mikhail Yavor
6. Radiofrequency Mass Analyzers
Mikhail Yavor